SAUTER TE 1250-0.1F. Digitales Schichtdickenmessgerät TE
385,00 €
Bruttopreis
Ergonomisches Design und externer Messkopf für höchsten Bedienkomfort
- Externer Messkopf zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte
- Messköpfe mit anderen Messbereichen sind auf Anfrage erhältlich
- Datenschnittstelle RS-232, inklusive
- Nullplatte und Justierfolien inklusive
- (1)Lieferung im robusten Tragekoffer
- Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen
- Wählbare Einheiten: µm, inch (mil)
- Auto-Power-Off
| STANDARD | OPTION | |||||||||
 |  |  |  |  |  |  |  | |||
Artikelnummer | Prüfobjekt | Messbereich [Max] µm | Ablesbarkeit [d] µm | Kleinste Probenfläche konkav mm (Radius) | Kleinste Probenfläche konvex mm (Radius) | Option ISO- Kalibrierschein |
|---|---|---|---|---|---|---|
TE 1250-0.1F. | Schichten auf Eisen und Stahl | 1250 | 0,1 1 | 25 | 1  | |
TE 1250-0.1N. | Isolierende Beschichtungen auf nicht-magnetischen Metallen | 1250 | 0,1 1 | 50 | 1 | |
TE 1250-0.1FN. | Kombinationsmessgerät: F / N | 1250 | 0,1 1 | 25 | 1,5 | 1 |
TE 1250-0.1F.
Zubehör
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